注冊資產(chǎn)評估師考試《機(jī)電設(shè)備評估基礎(chǔ)》預(yù)習(xí)：裂紋的無損探傷法

第九章 設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測與故障診斷技術(shù)

　　知識點(diǎn)九、裂紋的無損探傷法（掌握）

　　對設(shè)備零部件裂紋的檢查，主要采用無損探測法。

　　利用無損探測技術(shù)不僅能發(fā)現(xiàn)機(jī)件的裂紋，以及腐蝕、機(jī)械性能超差等變化，而且還可以根據(jù)機(jī)件損傷的種類、形狀、大小、產(chǎn)生部位、應(yīng)力水平、應(yīng)力方向等信息預(yù)測損傷或缺陷發(fā)展的趨勢，以便及時采取措施，排除隱患。

　　有多種無損探測法供選用，如目視——光學(xué)檢測法、滲透探測法、磁粉探測法、射線探測法、超聲波探測法、聲發(fā)射探測法、渦流探測法等。

　?。ㄒ唬┠恳?mdash;—光學(xué)檢測法

　　對于封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部不能直接觀察的零件，主要使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行目視——光學(xué)檢測。

　　（二）滲透探測法

　　使著色滲透液或熒光滲透液滲入機(jī)件表面開口的裂紋內(nèi)，然后清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋內(nèi)的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗(yàn)方法。

　?。ㄈ┐欧厶綔y法

　　根據(jù)探測漏磁場方式的不同，可將磁性探測法分為磁粉探測法、探測線圈法、磁場測定法和磁帶記錄法。

　　磁粉探測法所用設(shè)備簡單，操作方便，檢測靈敏度較高，適用于各種形狀的鋼鐵機(jī)件，這種探測法可以發(fā)現(xiàn)鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點(diǎn)是這種探測法不能探測缺陷的深度。

　　

　　（四）射線探測法：χ射線和γ射線。

　　主要用來探測機(jī)件內(nèi)部的氣孔、夾渣、鑄造孔洞等立體缺陷，當(dāng)裂紋方向與射線平行時也能被探測出來。

　　優(yōu)點(diǎn)是探測的圖像較直觀，對缺陷尺寸和性質(zhì)的判斷比較容易，而且探測結(jié)果可以記錄下來作為診斷檔案資料長期保存。缺點(diǎn)是，當(dāng)裂紋面與射線近于垂直時就難以探測出來，對微小裂紋的探測靈敏度低，探測費(fèi)用較高，射線對人體有害。

　?。ㄎ澹┏暡ㄌ綔y法。

　　可以探測垂直于超聲波的金屬和非金屬材料的平面狀缺陷。

　　優(yōu)點(diǎn)是可探測的厚度大、檢測靈敏度高、儀器輕便便于攜帶、成本低，可實(shí)現(xiàn)自動檢測，并且超聲波對人體無害。其缺點(diǎn)是探測時有一定的近場盲區(qū)、探測結(jié)果不能記錄、探測中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品等。

　?。┞暟l(fā)射探測法。

　　基本原理是物體在外部條件（如力、熱、電、磁等）作用下會發(fā)聲，根據(jù)物體的發(fā)聲推斷物體的狀態(tài)或內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化。 動態(tài)檢測、在加載或運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行；裂紋主動參與，提供裂紋活動的信息；靈敏度高、覆蓋面大、不會漏檢；但是，不能反應(yīng)靜態(tài)缺陷情況。

　　（七）渦流探測法。

　　機(jī)件中存在損傷時，被監(jiān)測機(jī)件表面的渦流將發(fā)生改變，相應(yīng)的渦流磁場也將改變。

　　適用于導(dǎo)電材料表面或近表面探傷；靈敏度高，可自動顯示報警；非接觸式，可用于高溫測量；可用于顯示、記錄和報警，并可估算缺陷的位置和大小。

　　不足：深層缺陷難以探測、影響因素多、存在邊角效應(yīng)。